
AS930 涂層測(cè)厚儀—鐵基型...
測(cè)量范圍 :0~1800um ,測(cè)量原理:磁感應(yīng) , 測(cè)量誤差 :±(3%±1um)...
測(cè)量范圍 :0~1800um ,測(cè)量原理:磁感應(yīng) , 測(cè)量誤差 :±(3%±1um)...
測(cè)量范圍:0-1700um,測(cè)量誤差:±(2+2%*H)μm @ (0~500μm),±(2.5%*H)...
測(cè)量范圍:0-1700um,測(cè)量誤差:±(2+2%*H)μm @ (0~500μm),±(2.5%*H)...
測(cè)量范圍:0-1700um,測(cè)量誤差:±(2+2%*H)μm @ (0~500μm),±(2.5%*H)...
測(cè)量范圍:0-1700um,測(cè)量誤差:±(2+2%*H)μm @ (0~500μm),±(2.5%*H)...
涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鐵和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度...
涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制...
涂層測(cè)厚儀